HCE-5000 便携式ESD测试仪

产品概要：

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的生产过程中的质量保证都是必不可少的。

基本信息：

• 独立的测试系统，便携式空间占用小，性价比高。

• 搭配嵌入式操作屏幕，无需外置PC或Curve tracer可独立完成HBM，MM和漏电测试

• 适应于功率半导体器件及少管脚IC

技术优势：

•易于使用的触摸屏界面,设置可以在没有PC的情况下进行调整

•符合多种标准,满足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA对HBM/MM的要求

•泄漏与曲线追踪

应用方向：

ESD静电放电测试。

联系电话：

158-2191-4709 / 139-1847-4527

面板视图：

规格参数：

资料下载：

Hanwa HCE-5000产品资料