W5000M 晶圆级ESD测试仪

产品概要：

低成本高性能晶圆ESD测试仪，从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数，是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)

基本信息：

技术优势：

1.HBM波形在晶圆级实时捕获

2.符合J EDEC、ESDA和JEITA标准

3.提高效率，使用一个测试仪执行两个测试

4.Zap装置可以安装在探测站上

5.封装级性能可以从晶圆级测试结果推断出来

6.可选HMM zap测试(IEC 61000-4-2)

应用方向：

联系电话：

158-2191-4709 / 139-1847-4527

面板视图：

规格参数：

资料下载：

Hanwa HED-W5000M产品资料