HANWA TLP静电测试仪 HED-T5000 TLP/VF-TLP

▲概述:

TLP 专用系统，提取 ESD 保护器件触发/维持/失效电流等关键参数，用于设计/工艺/FA

▲主要特点:

脉宽100ns、上升沿2~10ns可调；支持标准TLP/VF-TLP；自动参数提取；兼容晶圆/封装测试

▲典型规格:

脉冲±10V~±2000V（可扩±4000V）；最高±30A；漏电流1pA；可选- 40℃~150℃温控

▲应用领域:

ESD保护电路验证；工艺保护结构优化；FA特性表征；SiC/GaN功率器件ESD评估

▲技术优势：

1、数据监测与分析：内置示波器可确认入射波和反射波，自动保存后在专用显示器上显示，还能进行特征数据的差异显示，方便分析。

2、自动化测试：可与半自动探针台连接实现自动化测试，也可连接晶圆ESD测试仪，实现自动测量和引脚、芯片间的自动移位，提高测试效率。

以上为产品基础介绍

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