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南智先进光电集成技术研究院

南京市浦口区江浦街道西华北路1号

        南智先进光电集成技术研究院,成立于2018年4月,系南京大学与南京市、南京江北新区、江苏省产研院共建重点项目。南智光电主要开展光电集成芯片器件定制开发、中试验证迭代和晶圆流片代工等业务。

       已建成国内首条“薄膜铌酸锂+X”光电芯片晶圆级量产线,拥有高等级洁净间5000㎡,微纳加工、检测、表征设备100多台,具备光电芯片全链条生产制造能力。

       2024年6月,南智光电在国内率先发布晶圆级薄膜铌酸锂光子芯片PDK,同年12月成功实现8英寸薄膜铌酸锂晶圆流片,成为国内首批具有大尺寸铌酸锂光子芯片标准化量产能力的机构。

       2025年5月发布国内首个光子专用大模型OptoChatAl,推进AI赋能光子芯片设计、中试验证与量产流片。

平台特色
简介概览-南智先进光电集成技术研究院有限公司
南智先进光电集成技术研究院(IOPTEE),是国内顶尖的薄膜铌酸锂(TFLN)+X晶圆级开放式流片平台。我们已服务全球超 300 家客户,涵盖高校、科研院所以及光电与半导体行业头部企业。


① 合作模式

作为技术中立平台,我们可根据客户需求提供两种灵活合作方案:
  1. - 纯代工服务
  2. - 联合开发 + 长期供货合作


② 核心服务与技术能力

- 多项目晶圆(MPW)& 全晶圆流片,配套标准化工艺设计套件(PDK)

已发布硅基薄膜铌酸锂、石英基薄膜铌酸锂、氮化硅‑薄膜铌酸锂异质集成等多套工艺设计套件(PDK),可快速完成高速电光调制器、耦合器、分束器等标准器件模块设计及制作。

- 8 英寸量产能力

厂区拥有 5000 平方米洁净车间,月产能约 1000 片晶圆。可提供光刻、刻蚀、薄膜沉积、键合、测试全工艺流程,工艺过程能力指数 Ppk>1.33,可同时支持中小批量试产与大规模量产。

- 异质集成平台

支持晶圆对晶圆(W2W)、芯片对晶圆(D2W)、芯片对芯片(D2D)集成工艺。

- 基于设备能力的多材料兼容微纳一体化加工

支持薄膜铌酸锂 (TFLN)、石英、α‑硅、氧化铝及部分 Ⅲ‑族‑Ⅴ 族材料等多种材料加工。
拥有光刻、刻蚀、镀膜、检测、表征等设备共100多台,具备光电芯片全链条生产制造能力。
TFLN流片(8英寸铌酸锂晶圆级产线)
1. 薄膜铌酸锂芯片器件定制化加工

   - 面向高校科研,薄膜铌酸锂芯片研发与定制代工;提供基础器件库、版图绘制服务

2. 晶圆级薄膜铌酸锂芯片小批量加工

   - 4 英寸晶圆级,电光调制器小批量加工;器件库支持,可器件设计、专项工艺开发

3. 周期极化铌酸锂波导工艺

   - 周期极化质子交换、钛扩散、薄膜铌酸锂波导;频率转换器件加工,可按性能定制设计

4. 图案极化铌酸锂 / 钽酸锂晶体(PPLN/PPLT)
   - 准相位匹配 QPM;实现 SHG/SFG/DFG/OPA/OPG/OPO 频率转换、非线性光场调控(OAM 光子轨道角动量)
   - 样品规格:长 1‑50mm,宽 1‑40mm,厚 0.2‑0.5mm,最小周期 5μm;可做特殊形状极化样品

> 应用方向:高速电光调制器(5G、100GHz/400GHz)、集成光学芯片、大数据、云计算光互联
技术服务-光刻制程工艺服务

加工能力:8 英寸及以下晶圆 / 碎片,按需最小线宽可达 8nm;可制备光栅、波导、Meta 超表面结构

配套设备:DUV、EBL、MA6、MA8、纳米压印、自动匀胶显影机

  1. 1. EBL 光刻:稳定工艺最小线宽 40nm
  2. 2. DUV 加工服务:8 寸晶圆级批量加工
  3. 3. MA6 光刻:最小线宽 1μm
  4. 4. MA8 光刻:8 寸光刻片加工
  5. 5. 小线宽镀膜剥离工艺:制备膜厚 100nm、线宽 110nm Al 光栅结构
技术服务-刻蚀制程工艺服务

加工能力:8 英寸及以下晶圆 / 碎片;可刻蚀材料:硅、氧化硅、氮化硅、磷化铟、氮化镓、蓝宝石、铌酸锂、钽酸锂、石英、氧化钛、氮化钽、各类金属氧化物

配套设备:RIE、ICP1、ICP2、IBE、深硅刻蚀机、深介质刻蚀机、气态释放刻蚀机

  1. 1. α‑Si Meta 刻蚀工艺:线宽 160nm,深度 900nm
  2. 2. 氧化钛 Meta 刻蚀:线宽 195nm,深度 650nm
  3. 3. 氮化钽刻蚀:硅衬底 / 熔融石英衬底,刻蚀角度均>85°
技术服务-镀膜制程工艺服务

加工能力:8 英寸及以下晶圆 / 碎片 镀膜材料:CVD 介质薄膜(氧化硅、氮化硅等);PVD 金属薄膜(金、银、铝、钛、镍、铬等);各类金属氧化物、合金薄膜

配套设备:PECVD1、PECVD2、磁控溅射镀膜仪、电子束蒸发台、光学镀膜仪、快速退火炉、管式退火炉、半自动清洗机、甩干机

技术服务-测试制程工艺服务

配套设备:双束电镜 (FIB‑SEM)、SEM/EDS、SEM、金相 / 数码显微镜、原子力显微镜 AFM、椭偏仪、台阶仪、膜厚仪、三维轮廓仪

  1. 1. SEM:图像观察、微观形貌表征
  2. 2. FIB‑SEM:芯片截面切割表征;结合 EDS 元素分析做失效分析;制备高质量 TEM 样品
  3. 3. AFM:表面粗糙度、形貌、三维结构测量
  4. 4. 膜厚仪 + 椭偏仪:薄膜厚度、光学参数(折射率 n、消光系数 k)测试
技术服务-特色光电子样品工艺服务

案例 1:柱状 α‑Si Meta 结构,最小线宽 40nm,刻蚀深度 970nm,深宽比>20:1

案例 2:石英 TiO₂方柱 Meta 结构,最小线宽 152nm,刻蚀深度 801nm,深宽比 5:1

案例 3:石英 SiN 圆柱 Meta 结构,最小线宽 100nm,刻蚀深度 600nm,深宽比 6:1

无源硅光器件制备;SiN 波导传输损耗优于 1dB/cm,最小加工线宽 80nm;支持 MMI、MZI (热调)、AWG 器件

小片及 4‑8 英寸晶圆级加工;包含 AlN 镀膜、AlN/Mo 组合 PVD 镀膜、刻蚀、多层套刻、电极制备成套工艺

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