图2:涂胶过厚造成的厚残余层与胶膜过薄、胶量不够造成的结构不连续完整的压印缺陷纳米压印胶的功能通常与传统光刻胶相似,除部分可直接应用的领域(如AR 光波导中在高折射率玻璃上直接压印高折射率材料)外,多数应用需通过“图形转移(Pattern Transfer)”将纳米结构刻蚀至衬底。与传统光刻相比,纳米压印必须额外增加一步反应离子刻蚀(Reactive Ion Etching,RIE)工艺以去除残余层并暴露出衬底。这一步不仅增加了工艺流程的复杂性,且刻蚀过程中的横向刻蚀会降低纳米结构的保真度。为实现图形的高精度传递,理想状态下要求残余层薄且具有高均匀性。对于图形密度均匀的结构,这较易实现;但对于如“超构表面(Metasurface)”等具有变周期、变占空比特征的非均匀图形,由于胶量需求不均,极难获得厚度一致的残余层,这成为了制约非均匀微纳结构采用纳米压印技术加工的主要瓶颈(图3)。图3:变周期结构压印后残余层厚度不均02残余层的控制为了降低残余层对于刻蚀的影响,需要对残余层厚度进行控制。这里引入一个关键概念-“需胶量”,即在压印过程中,构成与模板完全互补结构所需要的胶材总量,如采用紫外光固化材料,一些情况还要考虑光固化材料的收缩率。需胶量可以由以下公式计算得到,胶材填充区域在最小重复单元内的占空比(f)由式(1-1)进行计算得到: